LEA-S500

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 является лазерным атомно-эмиссионным спектрометром с широкими аналитическими возможностями. В приборе объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 - полностью автоматизированный спектрометр, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов:

металлы и cплавы
керамика
стекло
пластмассы
примеси в чистых материалах
прессованные порошки

Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
  - обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
  - значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
  - исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
  - обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.

Использование в Лазерном анализаторе элементного состава LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.

Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.

Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора LEA-S500.

Применения

Черная и цветная металлургия
Машиностроение
Строительные материалы
Добыча и переработка сырья
Геологическая промышленность
Полупроводниковая промышленность
Материаловедение
Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
Криминалистика
Стекольная промышленность

Таблица гарантированных пределов обнаружения и интервалов определяемых концентраций для ряда элементов в сплавах на основе железа, меди, алюминия и титана

Эле	Предел обнаружения, 3s, ppm (10-4 %)	Интервалы определяемых концентраций в сплавах на различных основах, %
		Железо		Медь		Алюминий		Титан
		Min	Max	Min	Max	Min	Max	Min	Max
Be	0.1			0.0005	2.0	0.0005	2.0
B	1.2	0.005	0.2
C	10	0.05	4.5
Mg	0.5	0.001	0.15			0.01	5.0
Al	1.0	0.001	2.0	0.01	5.0			0.03	10.0
Si	5.0	0.005	20.0	0.01	5.0	0.01	17.0	0.06	0.7
P	10	0.01	0.5	0.05	2.0
Ti	0.3	0.001	10.0			0.01	2.0
V	2.0	0.005	10.0					0.05	7.0
Cr	2.0	0.005	30.0	0.01	1.5	0.01	0.5	0.05	3.0
Mn	0.5	0.003	18.0	0.003	7.0	0.01	2.0	0.01	3.0
Fe	1.0			0.01	15.0	0.005	2.0	0.01	2.0
Co	4.0	0.005	15.0
Ni	0.8	0.001	40.0	0.01	20.0	0.001	1.0
Cu	0.5	0.001	10.0			0.01	10.0
Zn	5.0			0.01	50.0	0.001	2.0
As	5.0					0.008	0.5
Zr	1.0					0.01	0.3	0.01	4.0
Nb	1.0	0.003	1.5
Mo	1.0	0.005	20.0					0.01	7.0
Cd	1.0
Sn	10.0			0.01	20.0	0.01	2.0	0.05	4.0
W	5.0	0.01	16.0
Pb	20.0	0.01	0.5	0.01	15.0	0.01	0.3
Bi	5.0			0.005	0.1
Ag	0.3			0.001	0.5
Sb	10.0			0.005	1.5
Na	0.1					0.001	1.0
Сa	1.0
Au	4.5

Спецификация

ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА Фокусное расстояние, мм: Дифракционная решетка, штрихов/мм: Диапазон длин волн, нм: Дисперсия, нм/мм: Спектральное разрешение, нм:	500 1800 190-800 1.0 0.028	500 2400 190-600 0.7 0.020	500 3600 190-400 0.5 0.014
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
КАМЕРА ОБРАЗЦОВ Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.) Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа) Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм Рабочая среда: воздух Откачка воздуха: при необходимости Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
ИСТОЧНИК ВОЗБУЖДЕНИЯ Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности Средняя энергия в импульсе: 100 мДж Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов
РЕГИСТРАЦИЯ СПЕКТРА Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов) Регистрация полного спектра (панорамная)
МИНИМАЛЬНЫЕ ТРЕБОВАНИЯ К КОМПЬЮТЕРУ ОС: Win 98/ME/2000/XP Процессор: P-IV / 2 ГГц или аналогичный Объем оперативной памяти: 256 Мб HDD - 40 Гб Видеокарта: VIVO (Video-In, Video-Out), GeForce-3 (ASUSTeK) Монитор 17", разрешение не менее 1024x768, True Color Устройство чтения компакт-дисков CD-R Порт COM (interface RS-232) - 2 шт; Порт "Ethernet 100 Base-T" (connector RJ-45), USB-порт АКСЕССУАРЫ: принтер, АС, дополнительный порт "Ethernet 100 Base-T" для локальной сети, CD-RW
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ для Win9x/2000/XP Автокалибровка длин волн Индикация отклонения от указанного типа материала Контроль неучтенных примесей Метрологическая оценка результатов анализа Графическое представление аналитического сигнала Базы данных: - спектральных линий - стандартных образцов - типов материалов Распечатка и математическая обработка результатов анализа
АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРОГРАММЫ Аналитические программы (методология) для анализов химического состава: - сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др. - различных типов сталей и чугунов - токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.) Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов Автоматическое определение типа материала или базового элемента
ВРЕМЯ АНАЛИЗА От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ 230 В, 50/60 Гц 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры (ДxШxВ): 550 x 750 x 1100 мм; Масса: 120 кг