NTI
О компании Новости Контакты Продукция Техническая поддержка
Технологическое оборудование Аналитическое оборудование Информационные ресурсы

Поиск продукции


Поиск по ключевому слову

logo_ntmdt_2

NTI  »  Продукция  »  Аналитическое оборудование  »  Системы элементного анализа  »  Рентгеновские спектрометры  » 

Sapphire Si(Li) DU

Sapphire_Si(Li)_DU Only EDAX offers the Sapphire detector with such an advanced specification for light element performance. The light element sensitivity is superior to any other offering on the market today. The Sapphire process has provided the best crystal manufacturing in quality and consistency, enabling EDAX to pass on to our customers the benefits of these high yields. The Sapphire Si(Li) DU offers:

Super Ultra Thin window technology, for superior light element analysis down to Beryllium
10mm2В or 30mm2 detector crystals to suit any application
Industry leading peak-to-background ratio

Copyright © NT-MDT 1996-2012
All rights reserved.