PHI Quantera

PHI Quantera XPS, сканирующий микрозонд для фотоэлектронной спектроскопии второго поколения, обеспечивает чувствительность и инструментарий, необходимые для применения XPS метода ко всему спектру сегодняшних и будущих продуктов, а также в анализе отказов.

Высокопроизводительная спектроскопия микрообласти, XPS профилирование, автоматизированный анализ диэлектриков и роботизированные манипуляции с образцом определяют лицо XPS-прибора предназначенного для анализа поверхности в современной лаборатории.

К уникальным особенностям Quantera SXM относятся:

Запатентованная технология сканирования рентгеновским пучком с минимальным диаметром пучка < 9 мкм

Реализация всех возможностей XPS-метода (спектроскопия, профилирование по глубине, картирование и т.д.) для всех диаметров рентгеновского пучка

Самый высокопроизводительный инструмент для профилирования тонких пленок

Опционная фуллеренная (C60) ионная пушка для профилирования органических /полимерных материалов.

Автоматизированный анализ непроводящих образцов

Точность количественного анализа

Роботизированные манипуляции с образцом

Полная автоматизация, простота использования
Возможность спектроскопии микрообласти и высокая производительность при анализе тонких пленок позволяет открывать новые области применения для XPS -анализа поверхности.

Полная автоматизация системы упрощает эксплуатацию и повышает воспроизводимость результатов измерений. Большой размер столика образцов позволяет анализировать действительно крупные образцы из "реального мира" автоматически или сразу несколько мелких образцов.